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    ICP-AES和ICP-MS、AAS方法的比較

    瀏覽次數(shù):3625發(fā)布日期:2017-03-28

    隨著ICP-AES的流行使很多實驗室面臨著再增購一臺ICP-AES,還是停留在原來使用AAS上的抉擇。現(xiàn)在一個新的技術(shù)ICP-MS又出現(xiàn)了,雖然價格較高,但ICP-MS具有ICP-AES的優(yōu)點及比石墨爐原子吸收(GF-AAS)更低的檢出限的優(yōu)勢。因此如何根據(jù)分析任務(wù)來判斷其適用性呢?

    ICP-MS是一個以質(zhì)譜儀作為檢測器的等離子體,ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是極其相似的。ICP-AES測量的是光學光譜(120nm-800nm),ICP-MS測量的是離子質(zhì)譜,提供在3-250amu范圍內(nèi)每個原子質(zhì)量單位(amu)的信息。還可進行同位素測定。尤其是其檢出限給人極深刻的印象,其溶液的檢出限大部分為ppt級,石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級,ICP-AES大部分元素的檢出限為1-10ppb,一些元素也可得到亞ppb級的檢出限。但由于ICP-MS的耐鹽量較差,ICP-MS的檢出限實際上會變差,多大50倍。一些輕元素(如S、Ca、Fe、K、Se)在ICP-MS中有嚴重的干擾,其實際檢出限也很差。下表列出這幾種方法的檢出限的比較:

     

    表3 ICP-MS、ICP-AES與AAS方法檢出限的比較(ug/L

    元素

    ICP-MS

    ICP-AES

    GF-AAS

    F-AAS

    Ag

    0.003

    0.3

    0.01

    1.5

    Al

    0.006

    0.2

    0.1

    45

    Au

    0.001

    0.6

    0.1

    9

    B

    0.09

    0.3

    20

    1000

    Ba

    0.002

    0.04

    0.35

    15

    Be

    0.03

    0.05

    0.003

    1.5

    Bi

    0.0005

    2.6

    0.25

    30

    Ca

    0.5

    0.02

    0.01

    1.5

    Cd

    0.003

    0.09

    0.008

    0.8

    Ce

    0.0004

    2.0

    --

    --

    Co

    0.0009

    0.2

    0.15

    9

    Cr

    0.02

    0.2

    0.03

    3

    Cs

    0.0005

    --

    0.04

    15

    Cu

    0.003

    0.2

    0.04

    1.5

    Fe

    0.4

    0.2

    0.1

    5

    Ga

    0.001

    4.0

    0.1

    50

    Hf

    0.0006

    3.3

    --

    300

    Hg

    0.004

    0.5

    0.6

    50

    In

    0.0005

    9.0

    0.04

    30

    K

    1

    0.2

    0.008

    3

    La

    0.0005

    1.0

    --

    2000

    Li

    0.027

    0.2

    0.06

    0.8

    Mg

    0.007

    0.01

    0.004

    0.1

    Mn

    0.002

    0.04

    0.02

    0.8

    Mo

    0.03

    0.2

    0.08

    30

    Na

    0.03

    0.5

    --

    0.3

    Nb

    0.0009

    5.0

    --

    1500

    Ni

    0.005

    0.3

    0.3

    5

    Os

    --

    0.13

    --

    120

    P

    0.001

    1.5

    0.06

    10

    Pb

    0.001

    1.5

    0.06

    10

    Pd

    0.0009

    3.0

    0.8

    10

    Pt

    0.002

    4.7

    1

    6

    Rb

    0.003

    30

    0.03

    3

    Re

    0.0006

    3.3

    --

    600

    Rh

    0.0008

    5.0

    0.8

    6

    Ru

    0.002

    6.0

    --

    60

    S

    70

    9.0

    --

    --

    Sb

    0.001

    2.0

    0.15

    30

    Sc

    0.015

    0.09

    6

    30

    Se

    0.06

    1.5

    0.3

    100

    Si

    0.7

    1.5

    1.0

    90

    Sn

    0.002

    1.3

    0.2

    50

    Sr

    0.0008

    0.01

    0.025

    3

    Ta

    0.0006

    5.3

    --

    1500

    Te

    0.01

    10

    0.1

    30

    Th

    0.0003

    5.4

    --

    --

    Ti

    0.006

    0.05

    0.35

    7.5

    Tl

    0.0005

    1.0

    0.15

    15

    U

    0.0003

    5.4

    --

    15000

    V

    0.002

    0.2

    0.1

    20

    W

    0.001

    2.0

    --

    1500

    Y

    0.0009

    0.3

    --

    75

    Zn

    0.003

    0.2

    0.01

    1.5

    zr

    0.004

    0.3

    --

    450

     

    這集中分析技術(shù)的分析性能可以從下面幾個方面進行比較:

     

    1.容易使用程度:

    在日常工作中,從自動化來講,ICP-AES是zui成熟的,可有技術(shù)不熟練的人員來應(yīng)用ICP-AES專家制定的方法進行工作。ICP-MS的操作直到現(xiàn)在仍然較為復(fù)雜,盡管近年來在計算機控制和智能化軟件方面有很大的進步,但在常規(guī)分析前仍需由技術(shù)人員進行精密的調(diào)整,ICP-MS的方法研究也是很復(fù)雜及耗時的工作。GF-AAS的常規(guī)工作雖然是比較容易的但制定方法仍需要相當熟練的技術(shù)。

     

    2.分析試液中的總固體溶解量(TDS):

    在常規(guī)工作中,ICP-AES可分析10%TDS的溶液,甚至可以高至30%的鹽溶液。在短時期內(nèi)ICP-MS可分析0.5%的溶液,但在大多數(shù)情況下采用不大于0.2%TDS的溶液為佳。當原始樣品是固體時,與ICP-AES,GP-AAS相比,ICP-MS需要更高的稀釋倍數(shù),折算到原始固體樣品中的檢出限就顯示不出很大的優(yōu)勢了。

     

    3.線性動態(tài)范圍(LDR):

    ICP-MS具有超過105以上的LDR,各種方法可使其LDR開展至108。但不管如何,對ICP-MS來說:高基體濃度會使分析出現(xiàn)問題,而這些問題的解決方案是稀釋。因此,ICP-MS應(yīng)用的主要領(lǐng)域在痕量/超痕量分析。

    GF-AAS的LDR限制在102-103,如選用次靈敏線可進行高一些濃度的分析。

    ICP-AES具有105以上的LDR且抗鹽份能力強,可進行痕量及主要元素的測定,ICP-AES可測定的濃度高達百分含量,因此,ICO-AES可以很好地滿足實驗室主、次、痕量元素常規(guī)分析的需要。

     

    4.精密度:

    ICP-MS的短期精密度一般是1-3%RSD,這是應(yīng)用多內(nèi)標法在常規(guī)工作中得到的。

    ICP-AES的短期精密度一般為0.3-1%RSD,幾個小時的長期精密度小于3%RSD。

    GF-AAS的短期精密度為0.5-5%RSD,長期精密度的因素不在于時間而視石墨管的使用次數(shù)。

     

    5.樣品分析能力:

    ICP-MS和ICP-AES的分析能力體現(xiàn)在其可以多元素同時測定上。

    ICP-AES的分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型,每個樣品所需的時間為2或6分鐘,全譜直讀型較快,一般為2分鐘測定一個樣品。

    GF-AAS的分析速度為每個樣品中每個元素需要3-4分鐘,可以無人自動工作,可保證其對樣品的分析能力。

     

    6.運行的費用:

    ICP-MS運行費用要高于ICP-AES,因為ICP-MS的一些部件如分子渦輪泵、取樣錐和截取錐以及檢測器有一定的使用壽命而且需要更換。

    ICP-AES主要是霧化器與炬管的消耗,這和ICP-MS一樣,其使用壽命是相同的。

    GF-AAS則主要是石墨管的使用壽命及其費用。

    這三種技術(shù)均使用Ar氣,其消耗量是一筆相當?shù)馁M用,ICP技術(shù)的Ar費用遠高于GF-AAS。

     

    可以看出來這些技術(shù)是相互補充的,沒有一種技術(shù)能滿足所有的分析要求,只要某一種技術(shù)稍優(yōu)于另一種技術(shù)的地方。下表是AAS、ICO-AES、ICP-MS三種技術(shù)的分析性能的簡單比較:

     

    表4 ICP-MS、ICP-AES與AAS分析性能的簡單比較

    方法類型

    ICP-MS

    ICP-AES

    GF-AAS

    F-AAS

    檢出限

    絕大部分元素非常好

    絕大部分元素很好

    部分元素非常好

    部分元素較好

    分析能力

    動態(tài)范圍

       
     

    108

    106

    107

    103

    精密度(RSD)

    短期

    1-3%

    0.3-1%

    1-5%

    0.1-1%

    長期(4h)

    <5%

    <3%

    --

    --

    干擾情況

    光(質(zhì))譜干擾

    很少

    化學(基體)

    中等

    幾乎沒有

    電離干擾

    很少

    很少

    很少

    有一些

    質(zhì)量效應(yīng)

    存在

    不存在

    不存在

    不存在

    同位素干擾

    固體溶解量(Max.)

    0.1-0.5%

    2-10%

    >20%

    0.5-3%

    可測元素

    >75

    >73

    >50

    >68

    樣品用量

    較多

    很少

    半定量分析

    不能

    不能

    同位素分析

    不能

    不能

    不能

    分析方法開發(fā)

    需要專業(yè)知識

    需要專業(yè)技術(shù)

    需要專業(yè)技術(shù)

    容易

    無人控制操作

    不能

    使用易燃氣體

    運行費用

    中上

    中等

     

    根據(jù)分析溶液中待測元素的濃度來看,若每個樣品測定1-3個元素,元素濃度為亞或低于ppb級,如果被測元素要求能夠滿足的情況下,選用GF-AAS是zui合適的;若每個樣品5-20個元素,含量為亞ppm至%,選用ICP-AES是zui合適的;如果每個樣品需測4個以上的元素,在亞ppb含量,而且樣品的數(shù)量也相當大,選用ICP-MS是較合適的。

    可以看出ICP-AES是比較理想的分析方法,是實驗室應(yīng)當配置的常規(guī)分析手段。如果實驗室選用了ICP-AES來取代ICP-MS,那么實驗室能配備GF-AAS。這一配置可以滿足一般實驗室對于主、次、痕量成分分析的需要。

    ICP-AES法在冶金分析應(yīng)用上可能出現(xiàn)的zui大困難在于如何解決光譜干擾問題。這也是ICP分析技術(shù)發(fā)展中需要不斷解決的研究課題。

    IVP-AES法基體效應(yīng),可以應(yīng)用內(nèi)標法來解決例如霧化室效應(yīng)、試樣與標準溶液之間粘度差異所帶來的基體效益;背景較高可以采用離線背景校正,應(yīng)用動態(tài)背景校正對提高準確度也是很有效的。IVP-AES法zui大的干擾是譜線干擾,其光譜線數(shù)量很大而且光譜線干擾也較難解決。有記載的ICP-AES譜線有50000多條,元素間的譜線干擾及基體的譜線干擾也就很嚴重。因此,對某些樣品例如鋼鐵、冶金產(chǎn)品的分析必須采用使用高分辨率的ICP-AES儀器,盡量把可能干擾的譜線分開。各種分子粒子(如OH)的譜線或譜帶對某些低含量的被測元素也帶來干擾,影響其樣品分析中的實際檢出限。因此使用CCD陣列檢測器的儀器,以便準確快速地得到待測譜線及相鄰背景信息,并對分析譜線和背景進行同步測量,可實現(xiàn)離峰法測量而避開譜線干擾,或采用MSF法或IEC法扣除干擾。選擇每個元素的適宜分析條件或加入電離緩衡劑(如過量的I族元素)可以減少易電離元素的影響。

     

    小結(jié):

    在日常工作中ICP-AES分析技術(shù)是zui成熟的,可由技術(shù)不熟練的人員應(yīng)用ICP-AES技術(shù)人員制定的分析方法來進行工作。在常規(guī)工作中,ICP-AES 可分析10%TDS的溶液,甚至可以高至30%的鹽溶液。ICP-AES具有106以上的線性范圍LDR且抗鹽份能力強,可以同時進行痕量及主要元素的測定,ICP-AES可同時直接測定0.001-60%的濃度含量。ICP-AES外加ICP-MS,或GF-AAS便可很好地滿足實驗室的分析需要。對于每個樣品分析5-20個元素,含量在亞ppm至%,使用ICP-AES是zui合適的。ICP-AES和GF-AAS由于現(xiàn)代自動化設(shè)計以及使用惰性氣體的安全性,可以整夜無人看管工作。因此,ICP儀器必將成為冶金分析實驗室的基本配置,其分析技術(shù)在冶金分析中發(fā)揮越來越重要的作用。

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